技工人才缺口大，職稱(chēng)評(píng)審改革助力技術(shù)人才培養(yǎng)

時(shí)間：2019-07-22作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：101

江蘇一六儀器有限公司專(zhuān)注于測(cè)厚儀,標(biāo)準(zhǔn)片等

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  江蘇一六儀器有限公司 專(zhuān)業(yè)鍍層測(cè)厚檢測(cè) 歡迎來(lái)電詳詢(xún)！ X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時(shí)完成組分和厚度測(cè)試，厚度的測(cè)量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較，被測(cè)元素的特征X射線熒光強(qiáng)度不僅與鍍層中待測(cè)元素和基材的組成有關(guān)，而且與厚度直接相關(guān)。能量色散X射線熒光光譜分析相對(duì)其他分析方法，具有*對(duì)樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理、快速，方便，測(cè)

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