詞條
詞條說(shuō)明
半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱(也稱(chēng)為溫濕度循環(huán)試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等)是一種專(zhuān)門(mén)用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件,以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 *42部分:溫濕度貯存主要技術(shù)參數(shù):溫度范圍: -20℃~100℃(150℃)、-40℃~100℃(
ESS應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/快速溫變?cè)囼?yàn)箱/上海ESS應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/上??焖贉刈?cè)囼?yàn)箱
ESS應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/快速溫變?cè)囼?yàn)箱/上海ESS應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/上??焖贉刈?cè)囼?yàn)箱 用途: HTQ系列應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)。特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)期間,能夠較大地改善領(lǐng)域的可靠性以及減少維修上的花費(fèi)。在開(kāi)發(fā)期間應(yīng)用ESS能夠很大程度上節(jié)省測(cè)試時(shí)間和花費(fèi),從而消除或減少資格測(cè)試之前的隱藏的缺陷。對(duì)
Lab Companion高低溫試驗(yàn)箱走進(jìn)同濟(jì)大學(xué)
同心同德同舟楫,濟(jì)人濟(jì)事濟(jì)!*大*史悠久、聲譽(yù)**,是ZGzui早的國(guó)立大學(xué)之一,是jiaoyubu直屬并與上海市共建的國(guó)內(nèi)重dian大學(xué)。經(jīng)過(guò)115年的發(fā)展,*大學(xué)已經(jīng)成為一所特色鮮明、在海內(nèi)外有較大影響力的綜合性、研究型、guoji化大學(xué),綜合實(shí)力國(guó)內(nèi)高校**。學(xué)校始于1907年德國(guó)醫(yī)生埃里希?寶隆在中德兩國(guó)fu和shehui各界支持下創(chuàng)辦的*德文醫(yī)學(xué)堂。1912年與創(chuàng)辦不久的*德文
紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī)(Q8UV老化機(jī))
您的產(chǎn)品能否承受日曬雨淋?陽(yáng)光和水份是戶(hù)外產(chǎn)品的較大敵人,Q8 能模擬陽(yáng)光、雨露造成的損害,符合多項(xiàng)**認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。改善傳統(tǒng)耐候試驗(yàn)機(jī)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、保養(yǎng)困難的缺點(diǎn)。Q8采整體式設(shè)計(jì),可程控設(shè)定每天 24小時(shí)每周7天不間斷紫外光及雨露耐候試驗(yàn)。只要幾天或數(shù)星期的時(shí)間,就可再現(xiàn)室外幾個(gè)月、甚至數(shù)年時(shí)間才會(huì)發(fā)生的損傷,包括顏色變化、光澤損失、粉化、起霧、脆變、強(qiáng)度降低等各種現(xiàn)象。 Q8/UV2/UV3標(biāo)準(zhǔn)配備
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