手持式光譜儀怎么把測(cè)量數(shù)據(jù)預(yù)處理？

時(shí)間：2024-01-18作者：無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司瀏覽：50

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• 臺(tái)式X熒光光譜儀測(cè)試時(shí)粉末樣品誤差的幾個(gè)來源分析

  臺(tái)式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(diǎn)（不能用添加劑）。在各種應(yīng)用中，粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個(gè)臺(tái)式X熒光光譜儀測(cè)試時(shí)粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源：（1） 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測(cè)量樣品中的分析元素的熒光強(qiáng)度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來說，被分析樣品的粒度越小，熒光強(qiáng)度越高，輕元素尤甚。原子序數(shù)越小，對(duì)粒度越敏感；同一元素粒度越小，

• 創(chuàng)想儀器伊瓦特手持式X熒光光譜儀操作指南

  手持式X熒光光譜儀是專門為野外、現(xiàn)場X熒光分析應(yīng)用開發(fā)的儀器。這種光譜儀可以應(yīng)用于各類地質(zhì)礦樣多元素檢測(cè)和分析、礦渣精煉分析及考古研究等領(lǐng)域。今天創(chuàng)想小編就來給大家介紹下伊瓦特手持式X熒光光譜儀如何操作。?一、注意事項(xiàng)1、手持式光譜儀使用X射線進(jìn)行分析，雖然對(duì)人體的危害較小，但仍需注意避免將儀器指向任何人或?qū)⑸眢w暴露在光束中，以確保安全。2、X射線管與探測(cè)器是精密元件，需避免碰撞或摔落，

• 掌握X熒光光譜儀器的發(fā)展方向 走在發(fā)展前沿

  近幾年隨著科學(xué)技術(shù)的高速發(fā)展，很多國內(nèi)外廠家都在推出新型X射線熒光光譜儀，這些儀器不管是在性能還是軟件方面都有了進(jìn)步，越來越趨于體積小型化，操作自動(dòng)化和智能化，分析結(jié)果準(zhǔn)確度也提高了，測(cè)定元素范圍也較廣了。今天就跟著創(chuàng)想小編來了解一下X熒光光譜儀儀器的發(fā)展趨勢(shì)吧，這樣才不會(huì)被時(shí)代拋下哦。1.一機(jī)多用為了提高工作效率，節(jié)省時(shí)間，降低分析成本，新一代XRF熒光光譜儀器正朝著一機(jī)多用方向發(fā)展。不但可作常

• 影響臺(tái)式X熒光光譜儀分析時(shí)的測(cè)量度的因素有哪些？

  臺(tái)式X熒光光譜儀現(xiàn)如今已經(jīng)成為眾多領(lǐng)域的普遍檢測(cè)方法，可以迅速篩查多種類樣品基質(zhì)如固體、泥漿、粉末、糊狀物、薄膜、空氣過濾物以及其它很多基質(zhì)樣品中的未知成分。影響X熒光光譜儀測(cè)量度的因素有很多，比如有儀器本身的性能、工作曲線、測(cè)試樣品和測(cè)試方法等。接下來小編給大家簡單的介紹下。X熒光光譜儀的測(cè)量度受到多種因素的影響，包括樣品制備和樣品自身：樣品的均勻性、表面效應(yīng)、粒度和處理方法、存在的譜線干擾、本