電子電氣產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下，內(nèi)部元件（如電路板、電容、芯片等）可能出現(xiàn)哪些故障？如何通過(guò)低氣壓測(cè)試來(lái)提前發(fā)現(xiàn)并預(yù)防這些故障？

時(shí)間：2025-04-11作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：51

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專(zhuān)注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 汽車(chē)零部件清潔度檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)和方法有哪些？

  一、清潔度檢測(cè)的**標(biāo)準(zhǔn)ISO 16232 系列標(biāo)準(zhǔn)**標(biāo)準(zhǔn)化組織發(fā)布的《道路車(chē)輛 - 清潔度檢測(cè)》是行業(yè)通用標(biāo)準(zhǔn)，涵蓋采樣方法、檢測(cè)流程、數(shù)據(jù)評(píng)價(jià)等全流程。其中：ISO 16232-5?規(guī)定了顆粒計(jì)數(shù)法的操作規(guī)范，適用于直徑≥2μm 的顆粒檢測(cè)。ISO 16232-6?針對(duì)稱(chēng)重法，通過(guò)測(cè)量殘留污染物質(zhì)量評(píng)估清潔度。ISO 16232-7?涉及萃取法，用于分析可溶性污

• 金屬材料鍍層厚度檢測(cè)方法

  金屬材料鍍層厚度檢測(cè)主要有以下幾種方法：一、量具法千分尺測(cè)量法這是一種較為簡(jiǎn)單直接的方法。對(duì)于鍍層較厚且精度要求不是較高的情況可以使用。使用千分尺測(cè)量鍍前和鍍后的工件尺寸，兩者差值即為鍍層厚度。但是這種方法的精度有限，因?yàn)樗艿焦ぜ螤?、測(cè)量位置以及人為操作誤差的影響。例如，當(dāng)工件表面不夠平整或者形狀不規(guī)則時(shí)，測(cè)量的重復(fù)性和準(zhǔn)確性就會(huì)大打折扣。二、顯微鏡法光學(xué)顯微鏡法對(duì)于較厚的鍍層（大于 1μm）

• 優(yōu)爾鴻信成分分析| FTIR紅外光譜技術(shù)原理

  FTIR紅外光譜技術(shù)原理FTIR，屬于分子光譜的應(yīng)用，在工業(yè)領(lǐng)域，較為常用的是中紅外光譜。?目標(biāo)樣品，被紅外照射之后，樣品內(nèi)部的分子結(jié)構(gòu)吸收特征頻率的輻射， 輻射環(huán)境分子的振動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，引起分子結(jié)構(gòu)的偶較矩改變， 由此分子振動(dòng)能級(jí)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)，都被激發(fā)躍遷，躍遷從基態(tài)到激發(fā)態(tài)的能級(jí)變化，產(chǎn)生特征頻率、特征強(qiáng)度的分子光譜 物質(zhì)的化學(xué)結(jié)構(gòu)定性分析，就是基于該光譜圖的特征頻率和特征強(qiáng)度的綜合判定。編

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|黑色陽(yáng)極氧化膜脫落原因有哪些？

  黑色陽(yáng)極氧化膜脫落是一個(gè)較為復(fù)雜的問(wèn)題，以下是一些常見(jiàn)原因：一、前處理不當(dāng)脫脂不徹底如果工件表面的油脂、油污沒(méi)有被完全清除，在陽(yáng)極氧化過(guò)程中，這些雜質(zhì)會(huì)阻礙氧化膜的正常生長(zhǎng)。例如，機(jī)械加工后的零件表面可能殘留有切削油，當(dāng)進(jìn)行陽(yáng)極氧化時(shí)，氧化膜無(wú)法在有油污的區(qū)域牢固附著，從而導(dǎo)致后續(xù)使用過(guò)程中氧化膜脫落。堿蝕過(guò)度或不足堿蝕是為了去除工件表面的自然氧化膜，使基體金屬活化。如果堿蝕過(guò)度，會(huì)導(dǎo)致工件表面粗