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優(yōu)爾鴻信檢測|IC (集成電路)檢測的常用方法有哪些?
集成電路(IC)檢測是確保其質(zhì)量和性能的關(guān)鍵步驟,以下是一些常用的檢測方法:一、外觀檢查這是較基本的檢測方法。通過肉眼或借助放大鏡來檢查 IC 的引腳是否有彎曲、折斷、氧化等情況。同時,查看芯片表面是否有劃痕、裂紋、污漬或其他物理損壞。對于封裝體,檢查其標記是否清晰、完整,確保型號等信息準確無誤,因為標記錯誤可能會導致使用錯誤的芯片。二、功能測試在線測試(ICT)這是在電路板上對 IC 進行測試的
優(yōu)爾鴻信檢測|電子電氣產(chǎn)品需要檢測的苯系物有哪些
電子電氣產(chǎn)品中常需要檢測的苯系物主要包括以下幾種:苯是一種常見的**溶劑,具有揮發(fā)性和毒性。在電子電氣產(chǎn)品中,苯可能存在于一些涂料、膠水、清潔劑等原材料中。長期接觸苯可能會對人體的造血系統(tǒng)、神經(jīng)系統(tǒng)等造成損害,因此需要對其在電子電氣產(chǎn)品中的含量進行檢測.甲苯常作為溶劑或稀釋劑用于電子電氣產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中,例如在電路板的制造過程中,甲苯可能會用于清洗和脫脂等工藝。此外,一些塑料、橡膠等材料中也可能含
金屬材料鍍層厚度檢測主要有以下幾種方法:一、量具法千分尺測量法這是一種較為簡單直接的方法。對于鍍層較厚且精度要求不是較高的情況可以使用。使用千分尺測量鍍前和鍍后的工件尺寸,兩者差值即為鍍層厚度。但是這種方法的精度有限,因為它受到工件形狀、測量位置以及人為操作誤差的影響。例如,當工件表面不夠平整或者形狀不規(guī)則時,測量的重復性和準確性就會大打折扣。二、顯微鏡法光學顯微鏡法對于較厚的鍍層(大于 1μm)
在復雜形狀的通用零部件尺寸及幾何公差檢測中,如何提高檢測效率并保證檢測精度?
合理選擇檢測設(shè)備與方法根據(jù)零部件的復雜程度和精度要求選擇合適的檢測設(shè)備。對于具有復雜曲面的零部件,光學掃描儀是一個很好的選擇。它可以快速獲取零部件的表面形狀數(shù)據(jù),通過軟件分析來確定尺寸和幾何公差。例如,在檢測汽車發(fā)動機進氣歧管這種復雜形狀的零部件時,光學掃描儀能夠在短時間內(nèi)獲取大量的點云數(shù)據(jù),為后續(xù)的分析提供基礎(chǔ)。對于精度要求較高的復雜零部件,三坐標測量儀是**的。在使用時,應(yīng)采用合適的探頭,
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 王莉
電 話:
手 機: 15827322876
微 信: 15827322876
地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路二號
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網(wǎng) 址: foxconn_cmc.cn.b2b168.com
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