元器件的失效原因和故障檢查方法

時間：2025-04-11作者：武漢市鑫宇環(huán)檢測技術(shù)有限公司瀏覽：167

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• 詞條

  詞條說明

• 光電子元器件都需要做哪些可靠性測試？

  光電子元器件物理特性測試項(xiàng)目： 1、內(nèi)部水汽：確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。 2、密封性：確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。 3、ESD闊值：確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和敏感性。 4、可燃性：確定光電子器件所使用材料的可燃性。 5、剪切力：確定光電子器件的芯片和無源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。 6、可焊性：確定需要焊接的光

• 材料檢測表征方法之掃描電鏡

  材料檢測表征方法之掃描電鏡 自從1965年**臺商品掃描電鏡問世以來，經(jīng)過40多年的不斷改進(jìn)，掃描電鏡的分辨率從**臺的25nm提高到現(xiàn)在的0.01nm，而且大多數(shù)掃描電鏡都能與X射線波譜儀、X射線能譜儀等組合，成為一種對表面微觀世界能夠經(jīng)行全面分析的多功能電子顯微儀器。 在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著較其重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測等方面的研究

• 2020年諾貝爾物理學(xué)獎授予發(fā)現(xiàn)黑洞的3位科學(xué)家

  北京時間10月6日下午6時許，2020年諾貝爾物理學(xué)獎揭曉。Roger Penrose、Reinhard Genzel、Andrea Ghez獲獎。英國科學(xué)家Roger Penrose“由于發(fā)現(xiàn)黑洞的形成是廣義相對論的一個有力預(yù)測”而被授予了諾貝爾物理學(xué)獎。德國科學(xué)家和美國科學(xué)家Reinhard Genzel、Andrea Ghez因“在銀河系中心發(fā)現(xiàn)了一個**大質(zhì)量的致密物體”而被授予諾貝爾物理學(xué)

• 元器件的失效原因和故障檢查方法

  電子元器件在使用過程中，常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障，從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設(shè)備*部分故障，究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因，及時定位到元器件的故障原因，就能及時排除故障，讓設(shè)備正常運(yùn)行。 ?溫度導(dǎo)致失效：元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對元器件的影響。 ?溫度變化對半導(dǎo)體器件的影響： 由于P