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很多客戶在購買完貼片電容使用時(shí)會(huì)遇到電容開裂,短路,燒毀等現(xiàn)象,那么碰到這些現(xiàn)象該如何應(yīng)對(duì)呢,首先我們要知道造成這些現(xiàn)象的是什么原因。 一、開裂是指電容器上出現(xiàn)裂痕導(dǎo)致產(chǎn)品無法正常工作這種現(xiàn)象一般是為低阻造成的原因有 1.PCB受外力后斷路居多。 2.非電容本體受了外力撞擊,就有可能會(huì)短路或呈低阻。 3.外施應(yīng)力電壓過高也會(huì)導(dǎo)至MLCC電容失效,一般是短路或低阻,但此類現(xiàn)象在預(yù)留足夠余量的情況下
貼片電阻損壞原因分析以及解決方法 本文主要介紹了貼片電阻損壞原因分析以及解決方法,本文字?jǐn)?shù)約500字,閱讀完全文需5分鐘。 貼片電阻,較為常見的電子元器件之一,體積小,重量輕,適應(yīng)再流焊與波峰焊;電性能穩(wěn)定,可靠性高;裝配成本低,并與自動(dòng)裝貼設(shè)備匹配;機(jī)械強(qiáng)度高、高頻特性優(yōu)越。 當(dāng)貼片電阻出現(xiàn)問題時(shí),首先要找到貼片電阻引起的整流橋損壞的基本緣由,避免換上新的之后再次出現(xiàn)故障。 貼片電阻損壞原因分
哪些因素會(huì)導(dǎo)致高壓電容器的損耗 通常將電容器在電場作用下因發(fā)熱而消耗的能量稱為電容器的損耗。習(xí)慣上以損耗角正切tgδ表示電容器損耗的大小,而把tgδ稱為損耗因數(shù)。 高壓電容器能量的損耗分為介質(zhì)損耗和金屬損耗兩部分。介質(zhì)損耗包括介質(zhì)的漏電流所引起的電導(dǎo)損耗以及介質(zhì)較化引起的較化損耗等。金屬損耗包括金屬較板和引線端的接觸電阻引起的損耗。由于各種金屬材料的電阻率不同,金屬損耗隨頻率和溫度增高而增大的程
CBB電容可以稱為聚丙烯電容,是以金屬箔作為電極,將其和聚丙烯薄膜從兩端重疊后,卷繞成圓筒狀的構(gòu)造之電容器。 在現(xiàn)在的電子材料上已經(jīng)是可以替代大部分的聚苯電容和云母電容了。無極性,絕緣阻抗很高。電容量在10p~10u,額定電壓為63~2000V。CBB電容主要特點(diǎn)是頻率特點(diǎn)優(yōu)異,介質(zhì)損失小,絕緣電阻高,體積小,容量大,穩(wěn)定性好,一般用于在要求比較高的電路上。
公司名: 深圳市新晨陽電子有限公司
聯(lián)系人: 羅智能
電 話: 0755-28682867
手 機(jī): 15622766976
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地 址: 廣東深圳寶安區(qū)深圳市光明新區(qū)公明街道長春路中鵬程工業(yè)園1棟3樓
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