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不同測試環(huán)境對 PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測試結(jié)果有何影響?
不同的測試環(huán)境對 PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測試結(jié)果有著顯著的影響。溫度環(huán)境是一個關(guān)鍵因素。在高溫環(huán)境下,PCBA 上的各種材料會因為熱膨脹而發(fā)生尺寸變化。例如,電路板的基板材料、芯片封裝材料以及焊點等都會膨脹。由于不同材料的熱膨脹系數(shù)不同,這種膨脹差異會導(dǎo)致內(nèi)部產(chǎn)生熱應(yīng)力。在高溫測試環(huán)境中,應(yīng)力應(yīng)變測試結(jié)果通常會顯示出比常溫下更高的應(yīng)力值,尤其是在不同材料的交接處,如芯片與基板之間的焊點,這種熱應(yīng)力可能
優(yōu)爾鴻信,基于產(chǎn)品生命周期,一站式實驗室檢測技術(shù)服務(wù)。面向七大行業(yè):電子電氣汽車材料零部件環(huán)境有害物質(zhì)食品安全家用電氣醫(yī)療器械設(shè)備計量校準(zhǔn)尺寸測量
如何采用光譜分析法檢測電子電器產(chǎn)品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力?
采用光譜分析法檢測電子電器產(chǎn)品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力,通常可以使用以下步驟:首先,準(zhǔn)備好待檢測的樣品,確保其表面清潔、無損傷和污染物,以獲得準(zhǔn)確的檢測結(jié)果。常用的光譜分析方法如 X 射線熒光光譜法(XRF),利用 X 射線激發(fā)樣品中的原子,產(chǎn)生特征熒光 X 射線。通過測量這些熒光 X 射線的能量和強(qiáng)度,可以確定樣品中元素的種類和含量。對于鎳鍍層厚度的檢測,XRF 能夠根據(jù)鎳元素的特征譜線強(qiáng)度來
在通用零部件清潔度檢測過程中,如何控制和減少檢測過程中的二次污染,確保檢測結(jié)果真實反映零部件的原始清潔度?
檢測環(huán)境控制空氣凈化:建立潔凈的檢測環(huán)境是關(guān)鍵。使用高效空氣過濾器(HEPA)對檢測室的空氣進(jìn)行過濾,能有效去除空氣中的灰塵、纖維等顆粒物。例如,將檢測室的空氣質(zhì)量等級控制在 ISO 8 級或更高,可大幅減少空氣中的污染物。同時,要保持檢測室內(nèi)的正壓狀態(tài),防止外界未經(jīng)凈化的空氣進(jìn)入。溫濕度調(diào)節(jié):適宜的溫濕度對于減少二次污染也很重要。一般來說,溫度控制在 20 - 25℃,相對濕度在 40% - 6
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 王莉
電 話:
手 機(jī): 15827322876
微 信: 15827322876
地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路二號
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網(wǎng) 址: foxconn_cmc.cn.b2b168.com
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