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光束擴散器是一種光學組件,可將通過它們傳播的光束的照明模式改變?yōu)樗璧墓鈴姸确植?。本文介紹了一些利用激光束整形優(yōu)勢的增材制造新方法。光束擴散器增材制造的簡單描述增材制造(AM)是指各種技術,其中材料層在計算機控制的過程中相互疊加,以從CAD或其他方式生成的3D模型形成三維對象,而不是傳統(tǒng)的“減材制造”,其中材料通常被去除。AM加工是通過制造輕、強的零件和系統(tǒng),與傳統(tǒng)方法相比具有一些固有的優(yōu)勢。隨著
美國Optodiode發(fā)光二極管LED是將電能轉換為光能的半導體,發(fā)射光顏色取決于半導體材料和構圖。LED通常分為紫外光、可見光和紅外光三種波段。商用led單像素輸出功率至少為5mW,波長范圍為360nm到950nm,每個波長范圍由特定的半導體材料制成。深紅光至近紅外(IRLED):660nm-900nm該區(qū)域的器件結構有很多變化,但都使用鋁砷化鎵AlGaAs或砷化鎵GaAs材料。目前仍在推動提高
在使用Alphalas?UPD超快光電探測器時,對于所有遇到光電探測器沒有信號或信號非常小這種問題的客戶,經過事實證明,沒有任何例外的原因都是落在光電探測器芯片敏感區(qū)的輸入光功率太低。用功率僅為1 mW的633nm激光對UPD-50-SP進行測試。首先,我們參考UPD超快光電探測器UPD-50-SP的靈敏度曲線。在633nm,靈敏度為0.5 A/W(或0.5 mA/mW)。因為具有1mW
在半導體行業(yè)中,極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題,這會降低產量并耗費生產的時間和成本。因此,檢測半導體晶圓表面的缺陷和污染至關重要,這是在半導體計量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷,通常在深紫外(DUV)波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中,Holoor指出當線沿徑向掃描時,晶圓旋轉,產生晶圓的大面積采樣,從而
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
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電 話: 0755-84870203
手 機: 18926463275
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地 址: 廣東深圳龍崗區(qū)龍崗區(qū)平湖街道華南城1號館
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