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詞條說明
電池阻抗測試儀BT4560的特點(diǎn)通過低頻AC-IR測量,縮短了測量時(shí)間并提高了測量效率 通過使用BT4560的低波AC-IR測量,大幅縮短了鋰電池評(píng)估中所需測量時(shí)間。從而提高了測量效率。 低頻AC-IR測量讓價(jià)格較實(shí)惠 之前進(jìn)行這種高精度的低頻AC-IR測量的話需要價(jià)格高達(dá)數(shù)百萬日元的測量系統(tǒng)。而BT4560的主機(jī)價(jià)格非常實(shí)惠,以這個(gè)價(jià)格就能實(shí)現(xiàn)低頻AC-IC測量。 高精度、穩(wěn)定測量 BT456
1.波長范圍:200-960nm;波長準(zhǔn)確度:±2nm;波長重現(xiàn)性:≤0.5nm;帶寬:2nm 2.透射比準(zhǔn)確度:±0.5%τ;雜光:≤0.2%τ;T/A轉(zhuǎn)換方式:軟件;顯示:4位LED 3.紫外光源:進(jìn)口高能量、高穩(wěn)定、不**2000小時(shí)工作壽命及預(yù)校位氘燈 4.量程:0.0-199.9%τ;-0.3-2.999A;1-9999F;0-9999C 5.RS232串口及并行打印口,**數(shù)據(jù)處理軟
XPN-300偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀一、用途 XPN-300偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀、偏光溫控儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校較常用的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動(dòng)尺等附件還可用于化工化纖、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等領(lǐng)域。偏光熔點(diǎn)測定儀采用微電腦
特點(diǎn): ·完全滿足基本測量需求 ·采用可以較精確測量設(shè)計(jì)的真正激光技術(shù) ·適用于距離、面積、體積的測量并能做計(jì)算器使用 ·大的液晶圖形顯示 ·單點(diǎn)和延時(shí)/測量 ·人體功學(xué)設(shè)計(jì)的橡膠握把,較舒適、抗撞擊 ·包括一個(gè)攜帶包 作為STANLEY/史丹利的代理商,北京中儀 以其優(yōu)良的品質(zhì)和服務(wù)為您提供較優(yōu)惠的產(chǎn)品價(jià)格。 范圍0.6米 - 30米精度在30米處±5毫米激光650nm, IIIA類激光面積,
公司名: 北京中儀友信科技有限公司
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電 話: 010-57798167
手 機(jī): 13261366561
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